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X射线测厚仪

产品时间:2019-05-27

简要描述:

产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备
产品名称:X射线测厚仪
型 号:iEDX-150μWT
生 产 商:韩国ISP公司
亚太地区战略合作伙伴:广州鸿熙电子科技浙江快乐12

(一)iEDX-150μWT X射线测厚仪产品优势

 

1。 镀层检测,最多镀层检测可达5层,精度及稳定性高(见以下产品特征详述)。

2. 多导毛细管配置,光斑尺寸50um

3. 平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达250*250mm。

4. 激光定位。

  • 可检测软硬板电镀层厚度。
  • 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。
  • 可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。
  • 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。
  • 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。
  • 软件终身免费升级。
  • 无损检测,一次性购买标样可长期使用。
  • 使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供全方位保姆式服务。
  • 可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。

(二)iEDX-150μWT X射线测厚仪产品特征

  • 高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)
  • 计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)。

  • Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行精确的镀层厚度分析。
  • MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度分析

多镀层厚度同时测量

 4.1 单性金属镀层厚度测量。

 4.2 合金镀层厚度测量。

 4。3 双镀层厚度测量。

 4.4 双镀层(其中一层是合金)厚度测量。

 4.5 三镀层厚度测量。

 4。6 测量点大小:50um。

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