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电镀膜厚仪

产品时间:2019-05-27

简要描述:

产品类型:能量色散 X 荧光光谱分析设备
产品名称:X射线电镀膜厚仪
型 号:iEDX-150WT
生 产 商:韩国 ISP 公司
特点:该型仪器采用开槽式大平台设计,适合测试扁平状大面积样品,尤其适合线路板行业的镀层厚度管控。

(一)iEDX-150WT X射线电镀膜厚仪产品优势

1. X射线荧光镀层测厚仪镀层检测,最多镀层检测可达 5 层,精度及稳定性高(见以下产品特征详述)。

2. 平台尺寸:620*525mm,样品移动距离可达 110*110*5mm。(固定台可选)

3. 激光定位和自动多点测量功能。

4. 可检测固体、粉末状态材料。

5。 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。

6. 可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。

7。 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结

果。

8。 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。

9. 软件终身免费升级。

10. 无损检测,一次性购买标样可长期使用。

11. 使用安心无忧,售后服务响应时间 24H 以内,提供全方位保姆式服务。

 

 

(二)产品特征

1。 高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)

2。 计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048 通道逐次近似计算法 ADC(模拟数字转换器)。

3. Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用

基础参数计算方法,对样品进行精确的镀层厚度分析。

可以增加 RoHS 检测功能。

 

(三)iEDX-150WT X射线电镀膜厚仪配置及技术指标

1. X 射线管:高稳定性 X 光光管,微焦点 X 射线管、Mo (钼) 靶

铍窗口, 阳极焦斑尺寸 75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。

50kV,1mA。高压和电流设定为应用程序提供良好性能。

2. 探测器:SDD 探测器(可选Si-Pin)

能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

3。 滤光片/可选

初级滤光片:Al滤光片,自动切换

7个准直器:客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。 

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