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镀层测厚仪咋使用时要遵守什么规定呢
  • 发布日期:2019-05-28      浏览次数:35
    •    镀层测厚仪是通过X射线激发各种物质(如Mo、Ag、Mn)的特征X射线,然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性,测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片(或者对比样)对比得出各物质的厚度,这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加,厚度值也增加,但不是绝对直线关系;通过标样和软件及算法(算法有FP法和经验系数法)得到一个最接近实际对应关系的曲线。
       
        镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对镀层厚度有了明确要求。镀层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量,测量范围较小,X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。随着技术的日益进步,特别是近年来引入微机技术后,采用镀层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,镀层测厚仪是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。
       
        使用镀层测厚仪时应当遵守的规定
       
        a基体金属特性
       
        对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
       
        对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
       
        b基体金属厚度
       
        检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。
       
        c边缘效应
       
        不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
       
        d曲率
       
        不应在试件的弯曲表面上测量。
       
        e读数次数
       

      镀层测厚仪
      (镀层测厚仪产品图)

       
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